覆盖层厚度大于25μm时,涂层测厚仪测量误差与覆盖层厚度近似成正比。
影响涂层测厚仪测量精度的原因
(1) 覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;
(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;
(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;
(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.
(5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;
(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;
(7) 涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。
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来源：www.haondt.com
作者：易畅
发布时间：2012-01-04
