产品详细介绍:
A1型磁粉灵敏度标准试片,适用于连续磁粉探伤的验证及工作表面磁场强度的方向和大小,验证磁粉探伤的综合性能。
(A1)类型 | 厚度尺寸 | 裂纹深度 | 灵敏度 |
15/100 | 100um | 15um | 高 |
30/100 | 100um | 30um | 中 |
60/100 | 100um | 60um | 低 |
7/50 | 50um | 7um | 高 |
15/50 | 50um | 15um | 中 |
30/50 | 50um | 30um | 低 |
C型磁粉灵敏度标准试片,适用于探伤面窄小,曲率半径较小,不适用于A1型试片的情况下,可使用C型试片。
(C)类型 | 厚度尺寸 | 裂纹深度 | 灵敏度 |
8/50 | 50um | 8um | 高 |
15/50 | 50um | 15um | 中 |
D型磁粉灵敏度标准试片,适用于零部件的磁粉探伤,在直检中对几何形复杂及不同材质的工件,可正确的选择磁化规范,可检查探伤设备及磁悬液的性能,在磁粉探伤中,可以避免漏检,正确地知道探伤工所需的电流峰值和方向。
(D)类型 | 厚度尺寸 | 裂纹深度 | 灵敏度 |
7/50 | 50um | 7um | 高 |
15/50 | 50um | 15um | 中 |
M1型磁粉标准试片,适用于连续磁粉的验证工作,表示磁场度的方向和大小,验证磁粉探伤的综合性能。
(M1)类型 | 厚度尺寸 | 裂纹深度 | 灵敏度 |
7/50 | 50um | 7um | 高 |
15/50 | 50um | 15um | 中 |
30/50 | 50um | 30um | 低 |